ASTM F 1192M-1995 半导体器件的重离子照射引起的单事件现象测量的标准指南(米制)

作者:标准资料网时间:2024-05-27 03:07:06 浏览:8919 来源:标准资料网

【英文标准名称】:StandardGuidefortheMeasurementofSingleEventPhenomena(SEP)InducedbyHeavyIonIrradiationofSemiconductorDevicesMetric
【原文标准名称】:半导体器件的重离子照射引起的单事件现象测量的标准指南(米制)
【标准号】:ASTMF1192M-1995
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1995
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:放射性照射;剂量测定;辐照;破坏试验;锗;半导体;辐照度;单;接线盒;集成电路;电离辐射;电子元部件;结晶硅;器件;电子辐射;故障端点;单点测量;半导体装置;结晶半导体
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:17_240
【页数】:
【正文语种】:英语

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