SJ 20954-2006 集成电路锁定试验
作者:标准资料网 时间:2024-05-19 04:25:03 浏览:9118
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基本信息
| 标准名称： | 集成电路锁定试验 |
| 英文名称： | Integrated circuits latch-up test |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术 >> 微电路 >> 微电路综合 |
| ICS分类： | 电子学 >> 集成电路、微电子学 |
| 发布日期： | 2006-08-07 |
| 实施日期： | 2006-12-30 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 出版日期： | |
| 页数： | 15页 |
适用范围
本标准规定了集成电路的电流锁定和过压锁定的试验方法。
前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 电子元器件与信息技术 微电路 微电路综合 电子学 集成电路 微电子学
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